灼熱絲試驗(yàn)的實(shí)施主要依賴于測試裝置來進(jìn)行，試驗(yàn)操作相對比較簡單，因此一些試驗(yàn)人員認(rèn)為該檢測項(xiàng)目出現(xiàn)結(jié)果偏離的原因主要集中于樣品預(yù)的處理、樣品的裝夾位置和試驗(yàn)時的環(huán)境。其實(shí)這種認(rèn)為并不全面，在灼熱絲試驗(yàn)中除上述關(guān)注要點(diǎn)之外還有多個環(huán)節(jié)會對測試結(jié)果是否偏離起著至關(guān)重要的影響，分析如下：

　　當(dāng)被試樣品觸及灼熱絲時，灼熱絲溫度會有一個明顯的先降后升的過程。為了解決這一問題，有些國外灼熱絲試驗(yàn)裝置制造商在早期制造的試驗(yàn)裝置中裝有了用于保持溫度穩(wěn)定的反饋裝置，以使試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行灼熱絲試驗(yàn)的整個過程中灼熱絲溫度是恒定的。

　　隨著標(biāo)準(zhǔn)的不斷完善，這種做法在標(biāo)準(zhǔn)中予以了否定。在現(xiàn)行的GB/T5169.10-2⑴"VIECGOSQO-Z-IO^OOO121標(biāo)準(zhǔn)5.1中明確規(guī)定“在試驗(yàn)裝置加熱電路中不應(yīng)有用于保持溫度的反饋裝置或反饋回路”。

　　然而有些實(shí)驗(yàn)室對早期購置的帶溫度反饋裝置的灼熱絲試驗(yàn)裝置未能按標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行改進(jìn)，致使用于保持溫度的反饋裝置仍被繼續(xù)使用。根據(jù)統(tǒng)計(jì)，雖然在先降后升過程中下降值和回升值的多少會隨預(yù)定試驗(yàn)溫度的不同而有所不同，但在這一過程中下降溫度一般會比預(yù)定溫度下降100°c左右，回升后溫度會超過預(yù)定溫度20°C左右。

　　因此如果使用帶有溫度恒定裝置的灼熱絲試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行測試無疑是加嚴(yán)了測試條件。有兩個方面的規(guī)定。一個是灼熱絲頂部的校驗(yàn)，主要內(nèi)容是需對灼熱絲頂部尺寸進(jìn)行驗(yàn)證；另一個是溫度測量系統(tǒng)的校驗(yàn)，主要內(nèi)容是提供灼熱絲試驗(yàn)裝置中溫度測量系統(tǒng)的校驗(yàn)方法即“銀箔法”。

　　然而，目前有些實(shí)驗(yàn)室在理解并執(zhí)行該段標(biāo)準(zhǔn)要求時存在斷章取義的現(xiàn)象，主要表現(xiàn)為有些實(shí)驗(yàn)室對灼熱絲試驗(yàn)裝置在計(jì)量方面不進(jìn)行外檢，而是采用自校的方式，并且自校的方法僅使用“銀箔法”進(jìn)行。對于這種做法，筆者認(rèn)為自校是可以的，但是僅用“銀箔法”進(jìn)行自校是不妥的。

　　因?yàn)?ldquo;銀箔法”只對試驗(yàn)裝置溫度測量系統(tǒng)進(jìn)行了校驗(yàn)，而忽略了灼熱絲頂部尺寸尤其是熱點(diǎn)偶放置位置對灼熱絲測試結(jié)果影響的重要性。在GB/T5169.10-2006111/IEC60590-2-10:2000121標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定灼熱絲頭部表面與熱電偶的距離應(yīng)為0.6±0.2mm。