LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)

該介電常數(shù)儀測試系統(tǒng)由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和自動測量控件以及電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。

系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的&佳解決方案。

工作特性

1.     平板電容器：

       極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm   可選

       極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10^－4 （1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

工作原理

本測試裝置主要由一個數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置，用于顯示被測材料樣品的厚度。陪測設備介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為調(diào)諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化，可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

北京航天偉創(chuàng)設備科技有限公司生產(chǎn)經(jīng)營多種型號介電常數(shù)儀，具體如下：

LDJD-C型

LDJD-B型

LDJD-A型

LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)